AOI光(guang)學(xue)檢(jian)測設(she)備(bei)中的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)機通常(chang)使用以(yi)下幾(ji)種技(ji)(ji)(ji)術：CMOS（互(hu)補金屬氧化(hua)(hua)物(wu)半導(dao)體(ti)）：CMOS技(ji)(ji)(ji)術是當(dang)前相(xiang)機的(de)(de)(de)(de)(de)主流技(ji)(ji)(ji)術之(zhi)一。CMOS傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)使用特殊(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)像(xiang)素(su)結構(gou)和(he)電(dian)路設(she)計，可以(yi)提(ti)(ti)供較(jiao)(jiao)高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)和(he)靈敏度(du)(du)(du)。CMOS相(xiang)機具有功耗低(di)(di)、集成(cheng)度(du)(du)(du)高(gao)和(he)成(cheng)本低(di)(di)等優(you)勢，適(shi)用于高(gao)速圖(tu)像(xiang)采(cai)(cai)集和(he)實(shi)時(shi)圖(tu)像(xiang)處理。CCD（電(dian)荷(he)(he)耦合器(qi)件）：CCD技(ji)(ji)(ji)術是傳(chuan)(chuan)統相(xiang)機技(ji)(ji)(ji)術，但在某(mou)些應(ying)(ying)用領域仍然普(pu)遍(bian)使用。CCD傳(chuan)(chuan)感(gan)器(qi)利用電(dian)荷(he)(he)傳(chuan)(chuan)輸技(ji)(ji)(ji)術將(jiang)光(guang)信(xin)號(hao)轉化(hua)(hua)為電(dian)荷(he)(he)，并進(jin)行信(xin)號(hao)放大和(he)轉換。CCD相(xiang)機具有較(jiao)(jiao)低(di)(di)的(de)(de)(de)(de)(de)噪(zao)聲、較(jiao)(jiao)高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)靈敏度(du)(du)(du)和(he)較(jiao)(jiao)好的(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)，適(shi)用于對圖(tu)像(xiang)質量(liang)要求較(jiao)(jiao)高(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)應(ying)(ying)用。為了提(ti)(ti)高(gao)空間分辨(bian)率(lv)，可以(yi)采(cai)(cai)取以(yi)下措施：使用更高(gao)分辨(bian)率(lv)的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)機：選擇(ze)(ze)具有更多像(xiang)素(su)的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)機可以(yi)提(ti)(ti)高(gao)圖(tu)像(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)空間分辨(bian)率(lv)。選擇(ze)(ze)合適(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)機分辨(bian)率(lv)要根據實(shi)際應(ying)(ying)用需求和(he)成(cheng)本進(jin)行權衡。優(you)化(hua)(hua)光(guang)學(xue)系(xi)統：通過改進(jin)光(guang)路設(she)計、使用高(gao)質量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)鏡頭和(he)濾(lv)光(guang)片(pian)等方(fang)式，可以(yi)提(ti)(ti)高(gao)圖(tu)像(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)清(qing)晰(xi)度(du)(du)(du)和(he)細節捕捉能力，從而提(ti)(ti)高(gao)空間分辨(bian)率(lv)。降低(di)(di)噪(zao)聲：減少圖(tu)像(xiang)中的(de)(de)(de)(de)(de)噪(zao)聲可以(yi)提(ti)(ti)高(gao)空間分辨(bian)率(lv)。可以(yi)采(cai)(cai)用提(ti)(ti)高(gao)信(xin)噪(zao)比(bi)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法，如增加(jia)光(guang)照強度(du)(du)(du)、降低(di)(di)相(xiang)機的(de)(de)(de)(de)(de)曝光(guang)時(shi)間等。AOI光(guang)學(xue)檢(jian)測技(ji)(ji)(ji)術在半導(dao)體(ti)產業鏈(lian)上(shang)起著至關重要的(de)(de)(de)(de)(de)作用，能夠提(ti)(ti)升半導(dao)體(ti)內芯片(pian)設(she)備(bei)質量(liang)和(he)生產效率(lv)。成(cheng)都(dou)AOI光(guang)學(xue)檢(jian)測加(jia)工設(she)備(bei)供應(ying)(ying)商

AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)通常可(ke)以(yi)與其(qi)他(ta)系(xi)統(tong)(tong)進行(xing)集(ji)成(cheng)(cheng)使用，以(yi)實(shi)(shi)現(xian)自(zi)(zi)動(dong)化生產(chan)(chan)(chan)和(he)質量(liang)控制(zhi)。以(yi)下是一些常見的系(xi)統(tong)(tong)與AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)進行(xing)集(ji)成(cheng)(cheng)的例(li)子：生產(chan)(chan)(chan)線控制(zhi)系(xi)統(tong)(tong)：AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)與生產(chan)(chan)(chan)線的控制(zhi)系(xi)統(tong)(tong)集(ji)成(cheng)(cheng)，以(yi)實(shi)(shi)現(xian)自(zi)(zi)動(dong)化的生產(chan)(chan)(chan)流(liu)程(cheng)(cheng)(cheng)。通過(guo)(guo)與PLC（可(ke)編程(cheng)(cheng)(cheng)邏輯控制(zhi)器）或(huo)其(qi)他(ta)控制(zhi)設(she)(she)備(bei)(bei)的連(lian)接(jie)，AOI設(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)根據(ju)(ju)(ju)(ju)生產(chan)(chan)(chan)節奏和(he)產(chan)(chan)(chan)品流(liu)動(dong)實(shi)(shi)時(shi)調(diao)整(zheng)(zheng)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)參數(shu)(shu)，并(bing)(bing)實(shi)(shi)時(shi)傳(chuan)輸檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結(jie)果(guo)和(he)統(tong)(tong)計數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)。印(yin)刷(shua)電路板制(zhi)造(zao)系(xi)統(tong)(tong)：AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)在印(yin)刷(shua)電路板制(zhi)造(zao)過(guo)(guo)程(cheng)(cheng)(cheng)中普遍應(ying)用。它可(ke)以(yi)與印(yin)刷(shua)機、貼片機、焊接(jie)設(she)(she)備(bei)(bei)等其(qi)他(ta)設(she)(she)備(bei)(bei)進行(xing)集(ji)成(cheng)(cheng)。通過(guo)(guo)與這些設(she)(she)備(bei)(bei)的連(lian)接(jie)，AOI設(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)在印(yin)刷(shua)、組裝和(he)焊接(jie)過(guo)(guo)程(cheng)(cheng)(cheng)中實(shi)(shi)時(shi)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)和(he)分析電路板的質量(liang)，并(bing)(bing)反饋給操(cao)作員或(huo)者其(qi)他(ta)設(she)(she)備(bei)(bei)進行(xing)調(diao)整(zheng)(zheng)。數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)管(guan)(guan)理系(xi)統(tong)(tong)：AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)以(yi)與數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)管(guan)(guan)理系(xi)統(tong)(tong)集(ji)成(cheng)(cheng)，以(yi)便實(shi)(shi)現(xian)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)的存儲、分析和(he)追溯。通過(guo)(guo)將檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)結(jie)果(guo)和(he)相關數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)上傳(chuan)到數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)庫(ku)或(huo)MES（制(zhi)造(zao)執行(xing)系(xi)統(tong)(tong)）中，可(ke)以(yi)實(shi)(shi)現(xian)對產(chan)(chan)(chan)品質量(liang)和(he)生產(chan)(chan)(chan)過(guo)(guo)程(cheng)(cheng)(cheng)的多方(fang)面監控和(he)管(guan)(guan)理。海南AOI光(guang)學(xue)自(zi)(zi)動(dong)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)備(bei)(bei)代理AOI光(guang)學(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)器可(ke)實(shi)(shi)現(xian)在線存在問題及時(shi)告知操(cao)作員，并(bing)(bing)自(zi)(zi)動(dong)記錄缺陷圖像、絲(si)印(yin)功率(lv)等信息。

AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)設(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)多種類型的(de)缺(que)陷(xian)，具體取決于設(she)備(bei)的(de)功能(neng)和配(pei)置，以(yi)(yi)下(xia)是(shi)一些(xie)常(chang)見的(de)缺(que)陷(xian)類型：表面缺(que)陷(xian)：包括(kuo)劃痕、磨(mo)損(sun)、凹陷(xian)、裂紋、污染、顆(ke)粒等(deng)(deng)。AOI設(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)產品(pin)表面上(shang)的(de)這些(xie)缺(que)陷(xian)，并對(dui)其(qi)進行分析(xi)和分類。元件缺(que)失(shi)或(huo)錯位：AOI設(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)電(dian)(dian)子元件、元器件或(huo)其(qi)他組裝件是(shi)否(fou)缺(que)失(shi)或(huo)錯位，以(yi)(yi)確(que)保產品(pin)組裝的(de)正(zheng)確(que)性。焊(han)接(jie)缺(que)陷(xian)：對(dui)于焊(han)接(jie)工藝(yi)，AOI設(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)焊(han)點的(de)質量(liang)，包括(kuo)焊(han)縫的(de)露出、焊(han)盤的(de)引腳(jiao)缺(que)陷(xian)、焊(han)接(jie)質量(liang)不良等(deng)(deng)。不良引腳(jiao)或(huo)接(jie)觸問題：AOI設(she)備(bei)可(ke)(ke)用于檢(jian)測(ce)(ce)電(dian)(dian)子元器件的(de)引腳(jiao)或(huo)連(lian)接(jie)點是(shi)否(fou)存(cun)在不良接(jie)觸、松(song)動、錯位等(deng)(deng)問題。線路(lu)(lu)短路(lu)(lu)和開路(lu)(lu)：AOI設(she)備(bei)可(ke)(ke)以(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)電(dian)(dian)子電(dian)(dian)路(lu)(lu)板上(shang)的(de)線路(lu)(lu)是(shi)否(fou)存(cun)在短路(lu)(lu)或(huo)開路(lu)(lu)，以(yi)(yi)確(que)保電(dian)(dian)路(lu)(lu)的(de)正(zheng)常(chang)工作(zuo)和連(lian)通性。

AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)對于小(xiao)(xiao)(xiao)型(xing)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)可(ke)靠性可(ke)以(yi)說(shuo)是相當高(gao)(gao)(gao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)。這(zhe)主要歸功于現(xian)代(dai)AOI設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)高(gao)(gao)(gao)分(fen)辨率(lv)攝像(xiang)(xiang)(xiang)頭、先(xian)(xian)進(jin)(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)算法以(yi)及自(zi)動(dong)化檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)流(liu)(liu)程(cheng)。首先(xian)(xian)，高(gao)(gao)(gao)分(fen)辨率(lv)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)攝像(xiang)(xiang)(xiang)頭能夠捕捉到(dao)微小(xiao)(xiao)(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)和焊點(dian)，使得設(she)備(bei)(bei)能夠檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)到(dao)小(xiao)(xiao)(xiao)型(xing)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)上可(ke)能存在的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺陷或錯誤。設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)像(xiang)(xiang)(xiang)素密度越高(gao)(gao)(gao)，對于小(xiao)(xiao)(xiao)尺寸元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)能力(li)也就越強。其次，現(xian)代(dai)AOI設(she)備(bei)(bei)通常配備(bei)(bei)了(le)先(xian)(xian)進(jin)(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)(xiang)(xiang)處(chu)理(li)算法，能夠對圖像(xiang)(xiang)(xiang)進(jin)(jin)行(xing)增強、去噪(zao)、邊緣檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)等處(chu)理(li)，提(ti)高(gao)(gao)(gao)對小(xiao)(xiao)(xiao)型(xing)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)精度。這(zhe)使得設(she)備(bei)(bei)能夠準(zhun)(zhun)確(que)(que)地分(fen)析元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)特征(zheng)，例(li)如引腳位(wei)置、尺寸、顏(yan)色等，以(yi)便(bian)進(jin)(jin)行(xing)缺陷檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)。此(ci)外(wai)，AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)采(cai)用自(zi)動(dong)化的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)流(liu)(liu)程(cheng)，能夠快速、準(zhun)(zhun)確(que)(que)地檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)大量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)小(xiao)(xiao)(xiao)型(xing)元(yuan)器(qi)(qi)件(jian)。自(zi)動(dong)化流(liu)(liu)程(cheng)可(ke)確(que)(que)保一致的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)標(biao)準(zhun)(zhun)和效率(lv)，并降(jiang)低了(le)人為因素帶來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)錯誤。AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)技術有(you)利于改進(jin)(jin)現(xian)有(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)生產流(liu)(liu)程(cheng)并優化生產效率(lv)。

AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)通(tong)(tong)(tong)常(chang)是基于(yu)(yu)(yu)預先定(ding)(ding)義(yi)的(de)(de)(de)(de)規(gui)(gui)則(ze)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)參數(shu)進(jin)(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)，因(yin)此(ci)對于(yu)(yu)(yu)非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)，可(ke)能(neng)(neng)需要進(jin)(jin)行(xing)一(yi)些(xie)適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)性(xing)(xing)調(diao)整(zheng)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)定(ding)(ding)制化(hua)設(she)置。以(yi)(yi)(yi)下是一(yi)些(xie)方法(fa)可(ke)以(yi)(yi)(yi)幫助(zhu)兼容非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)：靈(ling)活(huo)的(de)(de)(de)(de)算法(fa)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)規(gui)(gui)則(ze)：現(xian)代的(de)(de)(de)(de)AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)系(xi)統(tong)(tong)通(tong)(tong)(tong)常(chang)具(ju)有(you)靈(ling)活(huo)的(de)(de)(de)(de)算法(fa)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)規(gui)(gui)則(ze)設(she)置功能(neng)(neng)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)根據不同(tong)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)特(te)(te)性(xing)(xing)進(jin)(jin)行(xing)適(shi)(shi)(shi)當的(de)(de)(de)(de)調(diao)整(zheng)。通(tong)(tong)(tong)過調(diao)整(zheng)算法(fa)參數(shu)、定(ding)(ding)義(yi)新的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)規(gui)(gui)則(ze)或修改現(xian)有(you)規(gui)(gui)則(ze)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)需求(qiu)。自(zi)學(xue)習和(he)(he)(he)(he)(he)(he)自(zi)適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)功能(neng)(neng)：一(yi)些(xie)高(gao)(gao)級(ji)的(de)(de)(de)(de)AOI系(xi)統(tong)(tong)具(ju)有(you)自(zi)學(xue)習和(he)(he)(he)(he)(he)(he)自(zi)適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)功能(neng)(neng)，可(ke)以(yi)(yi)(yi)通(tong)(tong)(tong)過對樣(yang)本(ben)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)學(xue)習和(he)(he)(he)(he)(he)(he)分析來提(ti)(ti)高(gao)(gao)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)(de)(de)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確(que)性(xing)(xing)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)性(xing)(xing)。通(tong)(tong)(tong)過對非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben)進(jin)(jin)行(xing)學(xue)習，系(xi)統(tong)(tong)可(ke)以(yi)(yi)(yi)自(zi)動調(diao)整(zheng)檢(jian)測(ce)(ce)算法(fa)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)規(gui)(gui)則(ze)，以(yi)(yi)(yi)更好地適(shi)(shi)(shi)應(ying)(ying)這些(xie)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)特(te)(te)點。強大(da)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)處(chu)理能(neng)(neng)力：非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)可(ke)能(neng)(neng)具(ju)有(you)復雜(za)的(de)(de)(de)(de)表面特(te)(te)征和(he)(he)(he)(he)(he)(he)幾何(he)結構，對圖(tu)像(xiang)處(chu)理的(de)(de)(de)(de)要求(qiu)更高(gao)(gao)。且強大(da)的(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)處(chu)理功能(neng)(neng)可(ke)以(yi)(yi)(yi)幫助(zhu)提(ti)(ti)取關(guan)鍵特(te)(te)征并準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)確(que)分析產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)狀態，從而(er)提(ti)(ti)高(gao)(gao)兼容性(xing)(xing)。定(ding)(ding)制化(hua)設(she)置和(he)(he)(he)(he)(he)(he)工程支持：對于(yu)(yu)(yu)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)，可(ke)能(neng)(neng)需要將AOI系(xi)統(tong)(tong)進(jin)(jin)行(xing)一(yi)些(xie)定(ding)(ding)制化(hua)設(she)置，包括特(te)(te)殊(shu)的(de)(de)(de)(de)光源(yuan)配置、成(cheng)像(xiang)參數(shu)調(diao)整(zheng)、特(te)(te)定(ding)(ding)尺寸的(de)(de)(de)(de)樣(yang)本(ben)夾具(ju)等。此(ci)外，廠商的(de)(de)(de)(de)工程支持團隊可(ke)以(yi)(yi)(yi)提(ti)(ti)供技(ji)(ji)術(shu)(shu)指導和(he)(he)(he)(he)(he)(he)定(ding)(ding)制化(hua)開(kai)發，以(yi)(yi)(yi)滿足非(fei)標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)特(te)(te)殊(shu)產(chan)(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)(de)需求(qiu)。AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)技(ji)(ji)術(shu)(shu)可(ke)以(yi)(yi)(yi)分析大(da)量數(shu)據，發現(xian)潛在(zai)問題，并實時進(jin)(jin)行(xing)調(diao)整(zheng)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)優化(hua)。江西AOI光學(xue)檢(jian)測(ce)(ce)設(she)備廠家

AOI光學檢(jian)(jian)(jian)測技術對(dui)于超極微型電路板和焊點缺陷的檢(jian)(jian)(jian)查效(xiao)果也(ye)比較好(hao)。成都AOI光學檢(jian)(jian)(jian)測加工(gong)設備(bei)供應(ying)商

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